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集成電路開發與測試(中級)
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集成電路開發與測試(中級)

作 者:杭州朗迅科技有限公司 組編 居水榮 夏敏磊 主編
定 價:58.00元 出版時間:2020-12-28
ISBN:978-7-04-055306-2 讀者對象:高等職業教育
版面字數:460.000千字 一級分類:電子信息大類
開本:16開 二級分類:電子信息類
全書頁數:300頁 三級分類:微電子技術
裝幀形式:平裝
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